SENTERRA II被设计为具有极高灵敏度、优异的光谱和成像性能等特点,因此SENTERRA II是一个适合高端研究应用的强大平台。由于其自动化程度高、尺寸小巧、拥有高效的工作界面,SENTERRA II同时也是解决质量控制实验室实际问题的理想工具。
SENTERRA II能够测量拉曼成像,并将所获取的空间分辨分子结构信息与样品的高质量显微图像结合在一起。用户无需制备和接触样品即可完成分析,并可获取空间分辨率精细至一微米以下的样品表面化学图成像。此外,透光样品的深度剖面分析功能支持对样品进行非破坏性三维检测。SENTERRA II应用广泛,适合用于有机和无机材料的检测、辨别和识别。
区分同物质的不同晶型
药片中的API和赋形剂分布可视化
失效分析:颗粒物和杂质鉴定
细胞和组织分子结构研究
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